芯科盛电子：语音IC的电磁干扰问题

　　   很多的工厂遇到过一些很奇怪的问题，产品出货寄到客户那边，甚至在测试到包装过程中，测试没功能，检查电池(AG13水银电池和钮扣电池)，发现已经鼓起，没有电压;如果装电池时间不长，会发现电池发热。重新换电池，测试功能一切正常，没有问题。这种问题在4E和9系列的语音IC都有发现。

　　针对这种问题进行测试，先准备一个电流测语音IC的电流，条件允许还可以用一个示波器测OSC脚的电压。

　　Reset测试：用新电池上电，电流开始有个Reset电流，很快电流降到1uA以下，连续上电多次，并没有发现Reset不良的现象。

　　抗干扰测试:在语音IC正常Reset后，对语音IC的几Input分别输入1-20us的Pulse，检测语音IC是否动作异常，并监测语音IC的Isb变化。测试发现当Pulse过来时，示波器测到语音IC OSC脚电压变低，指示语音IC退出Sleep状态，电流也会增加到2mA，但是不会维持在2mA，会很快降到1uA以下。 但是有时语音IC在电流从0uA变为2mA后，会一直维持在2mA，不会降到正常值，语音IC此时不能回到Sleep状态，由于电流一直维持在2mA，电池会慢慢耗尽。

　　语音IC会被Short pulse唤醒的现象始终存在，与设置Debounce时间的长短无关，Debounce时间长只能让语音IC不响应此Short pulse，做相关动作，不能使语音IC不被唤醒。